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DC-DC常見應(yīng)用問題解疑(一)

時間:2024-05-28 來源: 芯洲科技

對于在工程師選型、測試的時候常會遇到的電源管理芯片問題,本期SCT做了歸納和整理,方便快速解答大家的疑惑。歡迎各位專家在留言區(qū)補充討論問答。

目錄

1 靜態(tài)電流IQ,為什么單板上實測值與芯片規(guī)格書標稱值不一樣?

2 PSM(PFM)、USM、FPWM(FCCM)差別及優(yōu)缺點?為什么有的DCDC存在電感嘯叫現(xiàn)象?

3 芯片Vin_UVLO含義

4 EN使能設(shè)計邏輯,如何規(guī)避上下電回勾震蕩問題?

5 Soft-start軟啟動,解決上電過沖超調(diào)、電子負載重載無法啟機等問題

6 如何理解熱阻參數(shù)和通過熱阻計算芯片結(jié)溫?

一、靜態(tài)電流IQ,為什么單板上實測值與芯片規(guī)格書標稱值不一樣?

靜態(tài)電流IQ規(guī)格書標稱值,是針對芯片單體進行測試和定義。是芯片內(nèi)部MOS不工作(non-switching狀態(tài))、只有芯片邏輯電路處于待機狀態(tài)時的值。

單板上,芯片正常工作起來后,芯片內(nèi)部MOS正常開關(guān)(switching)存在開關(guān)損耗和驅(qū)動損耗、外圍器件如電感、EN管腳分壓電阻、FB反饋電阻均會有損耗。

因此單板上即使在無負載情況下,靜態(tài)電流也會大于芯片規(guī)格書定義的值。

表格

描述已自動生成

以SCT2450Q為例,芯片IQ為25uA,demo板上電后電路工作起來的空載輸入電流約80uA。


二、PSM(PFM)、USM、FPWM(FCCM)差別及優(yōu)缺點?為什么有的DCDC存在電感嘯叫現(xiàn)象?

圖形用戶界面, 應(yīng)用程序

描述已自動生成

圖表, 折線圖

描述已自動生成 以SCT2A23 (100V/ 1.2A同步整流)為例,三種工作模式可選擇,不同工作模式差異如圖

圖形用戶界面, 應(yīng)用程序

描述已自動生成

圖表

描述已自動生成


三、芯片Vin_UVLO含義

UVLO Rising Threshold即芯片啟動電壓,即當輸入電壓上升到這個電壓值時芯片啟動工作;

Hysteresis即回差,即當芯片正常啟動工作后,如果輸入電壓跌落到VULO_Rising-Hysteresis時芯片停止工作。

表格

描述已自動生成

如SCT61240Q,Rising電壓3.8V、回差0.2V,即芯片啟動電壓(Von)3.8V,芯片關(guān)機電壓(Voff)3.6V。


四、EN使能設(shè)計邏輯,如何規(guī)避上下電回勾震蕩問題?

EN主要用作芯片使能控制,在輸入電壓≥UVLO電壓時,可通過EN控制芯片上下電;同時可設(shè)置啟動電壓(Von)和關(guān)機電壓(Voff)回差,確保任何情況下芯片不會因為在啟機臨界點電壓附近出現(xiàn)誤開關(guān)問題。有效解決下電過程因負載釋放引起的電壓回勾、震蕩問題。

EN設(shè)計邏輯:

1.Vout>UVLO,通過EN設(shè)置的Voff電壓>Vout;

2.Vout<UVLO,通過EN設(shè)置的Voff電壓>UVLO;

3.Vhys>芯片Vin_UVLO_Hysteresis;

以SCT2A00(100V/0.6A DC-DC)為例,通過EN設(shè)置Von、Voff計算公式如下

圖示, 示意圖

描述已自動生成

根據(jù)計算公式:EN上拉電阻越大則回差越大,越不容易因為輸入電壓的回勾導(dǎo)致芯片反復(fù)重啟;EN對地電阻阻值選擇建議小于Vin_fall/(I1+I2);


五、Soft-start軟啟動,解決上電過沖超調(diào)、電子負載重載無法啟機等問題

什么是軟啟動

SS軟啟動(Soft-start)是為開關(guān)電源電路配置一個啟動時間,在啟動后能夠使輸出電壓單調(diào)上升到目標電壓值。

圖示

描述已自動生成

軟啟動時間SS time即輸出電壓從開始啟動至啟動結(jié)束的時間。


軟啟動作用

降低沖擊電流:有效抑制浪涌電流,避免在啟動瞬間對輸出電容充電的電流達到開關(guān)電源的限值而觸發(fā)保護;

通常電子負載帶載上電、輸出有大容量電容時,由于線性度較差,上電時形成較大沖擊電流,同時電壓建立給輸出大電容充電,疊加后在輸出電壓建立過程中形成大負載電流,容易觸發(fā)芯片過流保護而無法上電。

解決反復(fù)重啟問題:減小對開關(guān)電路本身以及后端負載的電流應(yīng)力,減小輸出瞬態(tài)負載電流反應(yīng)到輸入端,使輸入電壓跌落導(dǎo)致的芯片反復(fù)重啟。

解決過沖、抖動:SS功能利于輸出電壓“單調(diào)上升”,而不會出現(xiàn)抖動或上電速率太快出現(xiàn)電壓過沖超調(diào)。

這對上電時序有較高要求的數(shù)字器件尤其是FPGA類器件更加重要,避免導(dǎo)致后端數(shù)字器件或FPGA器件發(fā)生閂鎖效應(yīng)(Latch-up)問題。

軟啟動電容&時間選擇

根據(jù)應(yīng)用選擇合適的值,并不是電容越大、軟啟時間越長越好。電容越大則放電時間越長,若存在快速反復(fù)上下電場景,因軟啟動電容未完全放電,在重新上電時不走軟啟動流程,可能導(dǎo)致輸出電壓出現(xiàn)過沖等現(xiàn)象。

文本, 信件

描述已自動生成


六、如何理解熱阻參數(shù)和通過熱阻計算芯片結(jié)溫?

下表是SCT2464Q(40V/6A BUCK, QFNFC4×3.5-14L Package)的典型熱指標

圖形用戶界面, 文本, 應(yīng)用程序

描述已自動生成

RθJA

定義:靜止空氣條件下結(jié)對環(huán)境的熱阻,熱量通過封裝體傳導(dǎo),與PCB的關(guān)系小,如一些立式封裝的產(chǎn)品。

適用性:用于比較相同封裝類型下不同器件的熱性能,不適合用于結(jié)溫估算。

RθJC

定義:結(jié)與外殼表面(頂部或底部封裝)的熱阻,所有的熱量都通過器件的單表面(殼體頂部或封裝底部)傳導(dǎo)。

適用性:適用于僅在封裝頂部或底部安裝散熱片的情況,其中90%以上的熱量從頂部或底部散熱。

對于沒有頂部散熱的典型塑料封裝SMD器件,僅通過測量外殼頂部溫度和計算器件功耗來估算結(jié)溫是不正確的,這可能導(dǎo)致估算的值比實際結(jié)溫高得多。

RθJB

定義:結(jié)到PCB(不是封裝底部)的熱阻,PCB是器件散熱的主要路徑,確保所有的熱量都流向PCB。

適用性:JEDEC標準:FR4、4層、1.6mm厚的高導(dǎo)熱PCB(High-KPCB)評估,頂層和底層銅箔厚度2oz,中間兩層1oz;單板尺寸通常為11.4×7.6cm或11.4×10.2。

如果實際應(yīng)用中的PCB設(shè)計類似或更優(yōu)化,則可使用此參數(shù)估算結(jié)溫,TJ=TB+(θJB*P)。

ΨJT/ΨJB

定義:熱特性參數(shù),表示芯片結(jié)與參考點之間的溫度差與總耗散功率的比值,

適用性:在實際應(yīng)用中,熱傳導(dǎo)路徑是多種多樣的,熱量通過多個通道傳導(dǎo),熱特性參數(shù)Ψ表示芯片結(jié)與參考點之間的溫度差與總耗散功率的比值,更適合于估算結(jié)溫且更加準確,常用的結(jié)溫計算方式:TJ=TC+(ΨJT*P)。

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